高熱驚厥后遺癥多數(shù)情況下不會遺留長期問題。典型后遺癥主要包括短暫神經(jīng)系統(tǒng)癥狀、認知功能輕微影響及癲癇發(fā)作風險增加，嚴重后遺癥如腦損傷僅見于復雜型高熱驚厥或反復發(fā)作未及時處理的情況。
短暫神經(jīng)系統(tǒng)癥狀是較常見的后遺癥表現(xiàn)。部分患兒在驚厥發(fā)作后24小時內(nèi)可能出現(xiàn)嗜睡、煩躁或肌張力異常，這些癥狀通常隨著體溫恢復正常逐漸消失。復雜型高熱驚厥患兒可能出現(xiàn) Todd 麻痹發(fā)作后肢體短暫無力，多數(shù)在48小時內(nèi)自行緩解。
認知功能影響多見于發(fā)作持續(xù)時間超過15分鐘的情況。研究顯示反復長時間高熱驚厥可能對海馬體造成可逆性損傷，表現(xiàn)為短期記憶力下降或注意力不集中。學齡期兒童可能出現(xiàn)學習成績波動，但多數(shù)在3-6個月內(nèi)恢復正常。
癲癇風險升高是需重點關(guān)注的潛在后遺癥。單純型高熱驚厥患兒癲癇發(fā)生率約2%-5%，而復雜型可達10%-15%。風險因素包括發(fā)作年齡小于12個月、發(fā)作持續(xù)時間超過30分鐘、發(fā)作前已有神經(jīng)系統(tǒng)異常等。這類患兒建議定期進行腦電圖監(jiān)測。
極少數(shù)情況下可能出現(xiàn)嚴重后遺癥。持續(xù)狀態(tài)驚厥可能導致腦水腫或缺血缺氧性腦病，表現(xiàn)為運動障礙、智力發(fā)育遲緩等。這種情況多見于基礎(chǔ)存在腦部病變或驚厥持續(xù)超過60分鐘的患兒。
對于有過高熱驚厥史的兒童，建議建立發(fā)熱預警機制，體溫超過38℃時及時使用對乙酰氨基酚等退熱藥物。有癲癇高危因素的患兒可考慮預防性使用地西泮栓劑。家長應掌握驚厥發(fā)作時的正確體位保持和呼吸道通暢方法，記錄發(fā)作持續(xù)時間及具體表現(xiàn)，為后續(xù)診療提供依據(jù)。
